半導體雷射參數測試燒測設備

半導體雷射二極體可靠性老化測試系統

半導體雷射二極體可靠性老化測試系統

LHX-302 是一款利用空冷、電加熱的老化系統,支援高密度、高可靠性的雷射壽命測試、老化測試和性能測試。

產品說明

LHX-302 是一款利用空冷、電加熱的老化系統,支援高密度、高可靠性的雷射壽命測試、老化測試和性能測試。

產品特色

LHX-302雷射可靠性與老化測試系統提供:

  • 老化測試同時最多可達1280 個雷射
  • 單通道最高2A的雷射驅動電流
  • 靈活可靠的熱插拔操作,容量擴充簡單
  • 可更換不同的老化抽屜以支援不同封裝的雷射
  • APC、ACC和LIV測試模式
  • 老化抽屜支援使用外部和/ 或内部光電二極管的測量
  • 整合Reliability Sys控制軟體
  • 及時查看當前運作的通道狀態及測試數據,可匯出已保存的測試數據
  • 直觀的圖形介面,用於查看系統和測試狀態
  • 停電或限電時仍可對已保存數據進行處理
  • 網路故障時,控制測量模組可自動保存至少5h 的老化數據(以5 分鐘/ 次计算)

產品參數

系統

系統容量:up to 1280

封裝類型:TO-Can, Butterfly, COC, Custom

每夾具工位:up to 32

溫度控制

溫度範圍:+40 - +120℃

溫度控制單位:單個抽屜

溫度控制精度:± 1.0℃

溫度控制穩定性:± 1.0℃

雷射控制

輸出極性:獨立並聯輸出,共陰極,克制化

驅動電流

輸出範圍:200mA(典型值),可客制化至2000mA

設定精度:± 1% of FS

輸出穩定性: ± 1% of FS

順從電壓:3.3V(典型值);可客制化高電壓

控制模式:定電流,定功率(客制化),LIV測試

測量功能

雷射電壓

範圍:+ 3.3V(典型值)

精度: ± 0.1V

內置PD偏轉電壓(客制化):0 - 8V

測量範圍(客制化):20 - 5000 µA

穩定性(客制化):± 5 µA

前端面PD(LIV功能)

波長範圍:400 - 1600nm

測量模式:相對變化值

Ith計算重複精度:≤ 3%

通用特性

規格 (HxWxD) cm:200 x 130 x 84

電源需求:350-420 VAC, 50/60 Hz, 50A,三相

系統控制電腦及監控軟體

電腦:奔騰4核處理器,4G記憶體,10G儲存硬碟

顯示器:14 吋(分辨率:1024*768)

UPS備用電源:> 1h

操作系統:Microsoft Windows®

系統控制軟體:Reliability Sys

程序代码:可執行程式

說明:

穩定性測量時間為48小時。


下載中心

半導體雷射二極體可靠性老化測試系統

老化選型


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